Chroma 3112 晶片測試分類機其高效率的模組化設(shè)計與精準的機構(gòu)傳動 結(jié)構(gòu)可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產(chǎn)要 求，多重檢查功能裝置可降低待測物發(fā)生異常的 損壞。

晶片測試運用此自動化測試分類技術(shù)不僅能提升 生產(chǎn)效率、減少人力需求，同時也增加了測試穩(wěn) 定度及測試良率。此外，其簡潔的機臺設(shè)計更可 節(jié)省機臺于測試廠之占地面積，幫助客戶大幅降 低生產(chǎn)成本。

Chroma 3112 晶片測試分類機的特色：

• 高信賴度之PnP自動化測試分類機
• x4 多盤置入自動測試分類
•  (X/Y/Z/θ) 可調(diào)式探針座模組
• 測式座產(chǎn)品堆迭檢測
• x12 輸出分類盤可程式設(shè)定輸出類別
• 全程即時良率顯示與控制
• 全程探針接觸狀態(tài)顯示 (選配)